|
Сумской сканирующий ионный микрозонд2 МэВ сканирующий ионный микрозонд предназначен для определения карты распределения микропримесей в приповерхностном слое исследуемых образцов с использованием неразрушающих методов анализа.
Описание
Ответственное подразделение: №10 - Отдел физики пучков заряженных частиц Последнее обновление информации: 29.04.2015
|
Institute Research Training of scientific personnel |